Mentor

擁有業內數一數二的電子系統和集成電路 (IC) 設計與開發軟件解決方案產品組合。 這些解決方案囊括了電氣與線纜設計和電子系統設計以及集成電路設計、驗證、測試與制造。

Quantix

在整個半導體生命周期中測試數據分析。
Quantix為半導體測試數據分析提供了完整的生命周期解決方案，從最初的器件表征到自動化的成品率和質量管理，再到RMA分析。Quantix解決方案為工程師和管理人員提供了“半導體智能”，可以更好地制定決策和改進流程。
這些產品全部基于通用的體系結構和使用模型，這使您可以隨著業務的增長輕松地擴展您的產量和質量管理活動。

 
Examinator-Pro

Quantix Examinator-Pro™為產品和測試工程師提供了表征新IC和測試程序，快速提高OSAT的產量以及識別和診斷成品率偏差所需的一切。Examinator-Pro可以將標準測試數據文件（如STDF，ATDF，PCM和100多種其他格式）轉換為綜合報告，并使您能夠交互式地向下鉆取數據以進行根本原因分析。
它提供了強大的生產力功能，可用于多變量的極端情況表征，加速的壽命測試以及對存儲在測試數據存儲庫中的龐大數據集的快速，靈活的查詢。Examinator-Pro還充當Quantix Yield-Man™的客戶端，為基于文件和基于RDB的分析提供相同的用戶界面.
典型的Examinator-Pro應用包括：

• 先進的設備表征和可靠性分析
• 測試程序證明/極限調整
• 測試儀，負載板相關性研究
• 測試時間優化
• 分包商資格
• 產量問題的根本原因分析

PAT-Man

Quantix PAT-Man™是用于PAT（零件平均測試）和其他DPM降低技術的綜合解決方案，可管理從初始晶圓批表征到最終測試成品率監控的整個異常值去除過程。全球主要的IDM在生產中都使用PAT-Man，以幫助提高用于安全關鍵型應用（例如汽車，醫療和國防）的設備的質量。
借助PAT-Man的智能，自適應離群算法和詳細的離群值分析，注重成本的制造商不僅能夠最大程度地降低PAT的產量損失，而且通?？梢酝ㄟ^使用離群數據更好地控制制造過程來提高產量。

• 支持DPAT，多元PAT，GDBN，NNR，簇，標線步和其他異常檢測技術
• 快速配方創建和產量估算
• 智能的自適應規則，可將產量影響降至最低
• PAT產量監測和報告推動了產量改進計劃
• 在晶圓分類或最終測試時輕松與制造過程集

 
Yield-Man

Quantix Yield-Man™是一種企業收益管理解決方案，可自動執行數據收集和分析過程，以創建靈活的計劃報表生成和電子郵件警報的無人值守收益監測解決方案。Yield-Man有效地充當了一個沉默的哨兵，監視所有測試子圖標中所有設備類型的yield，并實現了異常管理。
當特定零件或測試的總產量或結果超出預期范圍時，Yield-Man將發送電子郵件警報，告知您存在問題。利用Examinator-Pro™的全部功能及其數據分析功能，可以深入測試數據并進行詳細的根本原因分析。

• 自動數據收集和插入
• 自動整合重新測試數據
• 箱和參數的可編程警報
• 可選的SYA（統計產量分析）和SPM（統計過程監控）警報
• 自動化的可定制報告
• 家譜報告etest / sort
• 具有向下鉆取功能的實時半導體智能儀表板
• 使用Examinator-Pro進行深入的根本原因分析